山形新幹線E8系の故障原因判明 過電流で半導体素子破壊、気温も影響

山形新幹線のE8系車両に集中して発生した故障は、半導体素子の製造時期によって特性が変化したためだったことが明らかになった。JR東日本が2025年7月22日、関連キーワードはありません